有偏分支总体测度与多类型 $x\log x$ 条件

Peter Olofsson

doi:10.3150/09-BEJ211

有偏分支总体测度与多类型 $x\log x$ 条件

统计理论 2010-01-14 v1 统计理论

作者: Peter Olofsson

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摘要

我们通过构造一个与普通总体测度通过内在鞅 $W_t$ 相关联的有偏总体测度，研究具有一般类型空间的广义 (Crump--Mode--Jagers) 多类型分支过程的 $x\log x$ 条件。证明了 $x\log x$ 条件是 $W_t$ 非退化极限的充分条件，并研究了必要性的条件。

关键词

分支过程有偏测度 x log x 条件鞅 Crump-Mode-Jagers 过程多类型

引用

@article{arxiv.1001.2138,
  title  = {Size-biased branching population measures and the multi-type $x\log x$ condition},
  author = {Peter Olofsson},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1001.2138},
  year   = {2010}
}

备注

Published in at http://dx.doi.org/10.3150/09-BEJ211 the Bernoulli (http://isi.cbs.nl/bernoulli/) by the International Statistical Institute/Bernoulli Society (http://isi.cbs.nl/BS/bshome.htm)

有偏分支总体测度与多类型 $x\log x$ 条件

摘要

关键词

引用

备注

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