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拓扑绝缘体 Bi$_2$Se$_3$ 上的单层与双层石墨烯:基于第一性原理的电子与自旋轨道性质

介观与纳米尺度物理 2019-10-30 v2

摘要

我们详细研究了单层与双层石墨烯在靠近拓扑绝缘体 Bi2_2Se3_3 时的电子与自旋轨道性质。我们的方法基于第一性原理计算,并结合由对称性导出的模型哈密顿量来捕捉低能能带性质。我们考虑了位于 1–3 个五重层 Bi2_2Se3_3 上的单层与双层石墨烯,并提取了轨道与邻近诱导的自旋轨道耦合(SOC)参数。我们发现石墨烯被显著地空穴掺杂(350 meV),但线性色散得以保持。邻近诱导的 SOC 参数量级约为 1 meV,且为谷塞曼型。诱导的 SOC 对 Bi2_2Se3_3 五重层数目依赖较弱。我们还研究了横向电场的作用,该电场施加于位于 1 个五重层 Bi2_2Se3_3 之上的单层与双层石墨烯异质结两端。我们的结果表明,能带偏移以及邻近诱导的 SOC 参数均可由电场调控。最有趣的是双层石墨烯的情形,其中源于异质结本征偶极子的带隙可被关闭并再次打开,且带特征发生反转。强邻近 SOC 从导带向价带的切换实现了一种自旋轨道阀。此外,我们发现当石墨烯与 Bi2_2Se3_3 的层间距仅减小 10% 时,邻近诱导的 SOC 巨幅增加约 200%。最后,对于另一种衬底材料 Bi2_2Te2_2Se,能带偏移显著不同,石墨烯狄拉克点位于费米能级,而诱导的 SOC 强度与 Bi2_2Se3_3 衬底相比量级相近。

关键词

引用

@article{arxiv.1907.03494,
  title  = {Single and bilayer graphene on the topological insulator Bi$_2$Se$_3$: Electronic and spin-orbit properties from first principles},
  author = {Klaus Zollner and Jaroslav Fabian},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1907.03494},
  year   = {2019}
}

备注

13 pages, 13 figures, 3 tables