铁磁体/正常金属/铁磁体双隧道结中的顺序隧穿和散粒噪声
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v1 材料科学
摘要
研究了库仑阻塞区中铁磁体/正常金属/铁磁体双结的隧穿，假设中心金属岛中电子的自旋弛豫时间足够长。使用主方程，计算了不同参数器件的电流、隧穿磁阻（TMR）和电流噪声谱。结果表明，自旋和电荷关联之间的相互作用强烈依赖于所测器件的非对称性。电荷关联使得描述中心岛自旋积累的化学势移动和TMR都随着电流-电压特性中库仑台阶的相同周期振荡。这种效应被温度抹平。自旋关联可能导致有限频率下噪声的增强，而零频率噪声仍然总是亚泊松的。栅电压不仅引起电导的振荡，还引起TMR和噪声的振荡。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0701123,
title = {Sequential tunneling and shot noise in ferromagnet/normal-metal/ferromagnet double tunnel junctions},
author = {H. Giang Bach and V. Hung Nguyen and T. Anh Pham},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0701123},
year = {2007}
}
备注
16 pages, 7 figures