铁磁单电子隧穿器件中的散粒噪声
介观与纳米尺度物理
2009-10-31 v1 材料科学
摘要
在顺序隧穿极限下，理论上研究了具有Coulomb阻塞的铁磁双结中的频率依赖电流噪声。在自旋极化隧穿电流的相关性中发现了两种不同的弛豫过程：低频自旋涨落和高频电荷涨落。强不对称结中的自旋积累被证明会导致负微分电阻。我们还表明，在负微分电阻范围内激活的大自旋噪声会导致电流噪声的显著增强。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/9904341,
title = {Shot noise in ferromagnetic single electron tunneling devices},
author = {B. R. Bulka and J. Martinek and G. Michalek and J. Barnas},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9904341},
year = {2009}
}
备注
8 pages, 13 eps-figures included