拓扑绝缘体薄膜中的屏蔽、Friedel 振荡与低温电导率
介观与纳米尺度物理
2014-05-19 v2
摘要
在薄拓扑绝缘体薄膜中，顶部和底部表面通过隧穿耦合，这恢复了背散射并强烈影响屏蔽效应。我们在随机相位近似下计算了介电函数，获得了闭式结果。与独立的拓扑绝缘体表面不同，薄膜的介电函数随波数 和隧穿效应呈现谷值，并在 处出现尖点，其中 为费米波矢。由于该尖点的存在，Friedel 振荡随距离 按 衰减。我们在低温下通过第一玻恩近似确定了纵向电导率 ，此时屏蔽杂质是主要的散射机制。在高电子密度 下，，而在低密度下 。
引用
@article{arxiv.1310.0075,
title = {Screening, Friedel oscillations and low-temperature conductivity in topological insulator thin films},
author = {Weizhe Edward Liu and Hong Liu and Dimitrie Culcer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.0075},
year = {2014}
}