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CdS薄膜的亚太赫兹热激活电导率

材料科学 2016-09-21 v1

摘要

受晶粒结构控制的CdS薄膜的电导率,对于提升其光电导率以使其能够作为CdS/CdTe异质结太阳能电池中的窗口材料至关重要。为了从电磁学上表征薄膜,我们采用了带有亚毫米矢量网络分析仪 (VNA) 的开放腔谐振器。我们的技术能够测量薄至 0.1 μ\mum 的光伏薄膜的复介电常数 ϵ~\tilde{\epsilon}。我们在室温下测量了未退火与退火的CdS薄膜(厚度 \sim 0.15 μ\mum,置于 \sim 3 mm 厚的硼硅酸盐玻璃衬底上)的复介电常数实部 ϵre\epsilon_{re} 与电导率 σre\sigma_{re}(由虚部 ϵim\epsilon_{im} 导出)。我们获得了 100 至 312 GHz 间的(热激活)电导率,退火样品中的电导率比未退火样品低约 2 个数量级。与我们的预期相反,通过拟合德鲁德模型从这些数据提取的载流子浓度为 \sim 1016^{16} cm3^{-3}(未退火)与 \sim 1014^{14} cm3^{-3}(退火)。我们研究了晶粒尺寸与载流子浓度之间的关联。

关键词

引用

@article{arxiv.1608.04747,
  title  = {Sub-THz thermally activated-electrical conductivity of CdS thin films},
  author = {Rezwanur Rahman and John A. Scales},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1608.04747},
  year   = {2016}
}

备注

(In press), (2016) Applied Physics Letters