石墨烯反点阵的扫描拉曼光谱：p型系统掺杂的证据
介观与纳米尺度物理
2011-07-01 v2 材料科学
摘要
我们通过扫描拉曼光谱研究了通过电子束光刻和离子刻蚀在剥离石墨烯单层上制备的反点阵。系统地研究了一系列样品中碳晶格特征声子模式的峰位、峰宽和强度。在图案化样品中，我们发现G带模式系统性地硬化，伴随线宽变窄，而2D模式能量与G模式能量呈线性相关。我们将此解释为纳米结构石墨烯p型掺杂的证据。
引用
@article{arxiv.1006.2067,
title = {Scanning Raman spectroscopy of graphene antidot lattices: Evidence for systematic p-type doping},
author = {S. Heydrich and M. Hirmer and C. Preis and T. Korn and J. Eroms and D. Weiss and C. Schüller},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.2067},
year = {2011}
}