指数寿命下步进应力模型中非破坏性一次性设备测试的稳健推断
统计方法学
2022-04-26 v1 统计理论
统计理论
摘要
一次性设备分析涉及区间删失的一种极端情形，其中仅能知道失效时间是在测试时间之前还是之后。某些一次性设备在测试时不会被破坏，因此若其在检查时间前未失效，便可继续留在实验中，为推断提供额外信息。此外，可通过加速寿命试验（ALTs）在高于工作条件的不同应力水平下运行测试，快速估计其可靠性。特别地，步进应力试验允许实验者在寿命试验过程中于预设时间逐步升高应力水平。累积暴露模型通常用于步进应力模型，将一个应力水平下单元的寿命分布与先前应力水平下的寿命分布联系起来。本文中，我们基于密度幂散度（DPD）针对指数寿命分布下步进应力ALTs中的非破坏性一次性设备，开发了用于检验线性零假设的稳健估计量与Z型检验统计量。我们研究了估计量与检验统计量的渐近性与稳健性性质，给出了设备不同寿命特征（如可靠性、分布分位数与平均寿命）的点估计与置信区间。通过模拟研究评估了此处开发的推断方法的表现，并最终分析了一些真实数据集以作说明。
引用
@article{arxiv.2204.11560,
title = {Robust inference for non-destructive one-shot device testing under step-stress model with exponential lifetimes},
author = {Narayanaswamy Balakrishnan and Elena Castilla and María Jaenada and Leandro Pardo},
journal= {arXiv preprint arXiv:2204.11560},
year = {2022}
}