具有长尺度界面粗糙度的多层膜的电阻
材料科学
2010-01-12 v1
摘要
本文通过 Boltzmann 方程计算了若干情况下具有大尺度（远大于原子间距）界面粗糙度的多层膜的电阻。这种粗糙度在磁性多层膜中很常见。当电子平均自由程远小于层厚时，电流分布不均匀，电阻在面内电流 (CIP) 构型下减小，而在垂直面内电流 (CPP) 构型下增大。当平均自由程远大于层厚时，电流分布均匀，由于表面散射增强，CPP 和 CIP 构型下的电阻均增大。在 CPP 和 CIP 几何构型中，长尺度界面粗糙度的存在既可以增强也可以减弱巨磁阻效应，具体取决于相关参数。最后，利用实验确定的参数估算了界面粗糙度增加引起的 CPP 和 CIP 电阻率的变化。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0208251,
title = {Resistance of multilayers with long length scale interfacial roughness},
author = {Jason Alicea and Selman Hershfield},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0208251},
year = {2010}
}
备注
15 pages, 10 figures