拓扑绝缘体中费米面扭曲与面外自旋极化的关系：自旋分辨ARPES视角
介观与纳米尺度物理
2015-06-17 v1 强关联电子
摘要
我们对拓扑绝缘体Pb(Bi,Sb)2Te4 (Pb124)进行了自旋和角度分辨光电子能谱测量，并在六边形扭曲的狄拉克锥表面态上观察到了显著的面外自旋极化。为了将其置于上下文中，我们对各种拓扑绝缘体（Pb124、Bi2Te3、Bi2Se3和TlBiSe2）的扭曲强度进行了定量分析，并阐明了面外自旋极化Pz与扭曲强度存在系统性的相关性。然而，当扭曲较强时，Pz的大小仅为kp理论预期的一半，这表明多体效应可能起作用。除了确认自旋极化与表面态结构之间的普遍关系外，我们的数据还为调节拓扑绝缘体中的自旋极化提供了经验指导原则。
引用
@article{arxiv.1308.5123,
title = {Relationship between Fermi-Surface Warping and Out-of-Plane Spin Polarization in Topological Insulators: a View from Spin-Resolved ARPES},
author = {M. Nomura and S. Souma and A. Takayama and T. Sato and T. Takahashi and K. Eto and Kouji Segawa and Yoichi Ando},
journal= {arXiv preprint arXiv:1308.5123},
year = {2015}
}
备注
5pages, 5 figures