拓扑绝缘体Bi$_2$Te$_3$表面态中的六角翘曲效应

Liang Fu

doi:10.1103/PhysRevLett.103.266801

拓扑绝缘体Bi$_2$Te$_3$表面态中的六角翘曲效应

材料科学 2013-05-29 v3

作者: Liang Fu

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摘要

最近通过角分辨光电子能谱（ARPES）在拓扑绝缘体Bi $_2$ Te $_3$ 表面观察到了单个二维狄拉克费米子态。我们使用 $k \cdot p$ 理论研究了表面能带结构，发现了一个非传统的六角翘曲项，它是菱方结构中三次Dresselhaus自旋-轨道耦合的对应物。我们证明，这一六角翘曲项自然地解释了观察到的六角雪花形费米面。六角翘曲的强度由一个单一参数表征，该参数从费米面的大小提取。我们预测了在Bi $_2$ Te $_3$ 的光谱实验中六角翘曲的若干可检验特征。我们还探讨了由于费米面强嵌套导致自旋密度波的可能性。

关键词

拓扑绝缘体 Bi2Te3 表面态六角翘曲狄拉克费米子费米面自旋密度波 ARPES

引用

@article{arxiv.0908.1418,
  title  = {Hexagonal Warping Effects in the Surface States of Topological Insulator Bi$_2$Te$_3$},
  author = {Liang Fu},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0908.1418},
  year   = {2013}
}

备注

4 pages, 3 figures, published version

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