通过形状控制降低电流驱动畴壁运动的阈值电流密度
材料科学
2009-11-11 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
我们研究了Ni81Fe19纳米线中电流驱动畴壁运动所需阈值电流密度对纵横比(厚度/宽度)的依赖关系。理论上已证明,阈值电流密度与难轴磁各向异性Kperp和畴壁宽度λ的乘积成正比。(Phys. Rev. Lett. 92, 086601 (2004).)我们通过实验表明,在Ni81Fe19纳米线的情况下,Kperp可以通过磁形状各向异性进行控制,并且阈值电流密度随Kperp*λ的增加而增加。我们通过形状控制成功地将阈值电流密度降低了一半。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0510619,
title = {Reduction of threshold current density for current-driven domain wall motion by shape control},
author = {A. Yamaguchi and K. Yano and H. Tanigawa and S. Kasai and T. Ono},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0510619},
year = {2009}
}
备注
16 pages, 4 figures