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大体电阻率(6 Ωcm)拓扑绝缘体Bi$_2$Te$_2$Se中的量子振荡

介观与纳米尺度物理 2015-03-17 v1 强关联电子

摘要

我们报告了在具有大体电阻率(4 K时为6 Ωcm)的拓扑绝缘体Bi2_2Te2_2Se中观察到显著的Shubnikov-de Haas振荡。通过拟合SdH振荡,我们推断出大的金属性参数kFk_F\ell = 41,表面迁移率(μs\mu_s\sim 2,800 cm2^2/Vs)远大于体迁移率(μb\mu_b\sim 50 cm2^2/Vs)。指数场BνB_{\nu}与填充因子ν\nu的关系图显示出1/2的偏移,与无质量狄拉克态一致。在11 T的磁场中观察到了分数填充态的证据。

关键词

引用

@article{arxiv.1101.1315,
  title  = {Quantum Oscillations in a Topological Insulator Bi$_2$Te$_2$Se with Large Bulk Resistivity (6 $\Omega$cm)},
  author = {Jun Xiong and A. C. Petersen and Dongxia Qu and R. J. Cava and N. P. Ong},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1101.1315},
  year   = {2015}
}

备注

4 pages, 5 figures