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超允许发射体 30S 的精确半衰期测量

核实验 2018-03-14 v1

作者: V. E. Iacob , J. C. Hardy , L. Chen , V. Horvat , M. Bencomo , N. Nica , H. I. Park , B. T. Roeder , A. Saastamoinen

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摘要

我们利用极高纯度源和 4pi 正比气体计数器探测衰变正电子，高精度地测量了超允许 0+ 到 0+ β 跃迁的母核 30S 的半衰期。我们得到的半衰期为 1.17992(34) s。作为该测量的副产物，我们确定其子核 30P 的半衰期为 2.501(2) min。

关键词

超允许 β 衰变半衰期测量 30S 30P 4pi 气体计数器核物理

引用

@article{arxiv.1802.00406,
  title  = {Precise half-life measurement of the superallowed emitter 30S},
  author = {V. E. Iacob and J. C. Hardy and L. Chen and V. Horvat and M. Bencomo and N. Nica and H. I. Park and B. T. Roeder and A. Saastamoinen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1802.00406},
  year   = {2018}
}

备注

9 pages, 7 figures