超容许 Beta+ 发射体 46V 的精确半衰期测量

H. I. Park; J. C. Hardy; V. E. Iacob; L. Chen; J. Goodwin; N. Nica; E. Simmons; L. Trache; R. E. Tribble

doi:10.1103/PhysRevC.85.035501

超容许 Beta+ 发射体 46V 的精确半衰期测量

核实验 2015-06-03 v1

作者: H. I. Park , J. C. Hardy , V. E. Iacob , L. Chen , J. Goodwin , N. Nica , E. Simmons , L. Trache , R. E. Tribble

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摘要

46V 的半衰期被测量为 422.66(6) ms，比先前的最佳测量精确了一倍。我们的结果也与先前的测量一致，没有重现最近在同一跃迁的 Q_{EC} 值测量中遇到的分歧。综合所有世界数据，46V 超容许跃迁的 Ft 值确定为 3074.1(26) s，该结果与由 13 个已知最佳超容许跃迁确立的平均 Ft 值 3072.08(79) s 一致。

关键词

超容许 beta 衰变半衰期测量 46V Ft 值弱相互作用

引用

@article{arxiv.1112.3614,
  title  = {Precise Half-Life Measurement of the Superallowed Beta+ Emitter 46V},
  author = {H. I. Park and J. C. Hardy and V. E. Iacob and L. Chen and J. Goodwin and N. Nica and E. Simmons and L. Trache and R. E. Tribble},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1112.3614},
  year   = {2015}
}

备注

6 pages, 6 figures

超容许 Beta+ 发射体 46V 的精确半衰期测量

摘要

关键词

引用

备注

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