$^{20}$F 半衰期的测量
核实验
2018-06-13 v1
摘要
使用植入塑料闪烁体的放射性束，并结合四个 CsI(Na) 探测器记录 符合，测量了 F 基态的半衰期。结果为 ~s，与两个最精确的结果相差 17 个组合标准差。当前值使该半衰期结果的一致性再次变差，并呼吁使用具有不同系统效应来源的技术进行新的测量，以澄清这一差异。
引用
@article{arxiv.1805.05800,
title = {Measurement of the $^{20}$F half-life},
author = {M. Hughes and E. A. George and O. Naviliat-Cuncic and P. A. Voytas and S. Chandavar and A. Gade and X. Huyan and S. N. Liddick and K. Minamisono and S. V. Paulauskas and D. Weisshaar},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.05800},
year = {2018}
}
备注
11 pages, 13 figures, accepted for publication in Phys. Rev. C