测量 Bs 介子寿命

使用 $B_s \to D_s^- \ell^+ \nu X$ 的 semileptonic 衰变测量了 $B_s$ 介子寿命. 数据样本为 19.3 pb$^{-1}$ 的 $p \bar{p}$ 碰撞数据,其 $\sqrt{s}$ = 1.8 TeV,于 1992-1993 年收集于 Fermilab Tevatron 集成的 CDF 检测器. 有 $76 \pm 8$ 个 $\ell^{+} D_s^{-}$ 信号事件,其中通过衰变 $D_s^{-} \to \phi \pi^{-}$, $\phi \to K^+ K^-$ 识别 $D_s$. 利用这些事件,确定 $B_s$ 介子寿命为 $\tau_{s} = 1.42^{+ 0.27}_{- 0.23} {\rm (stat)} \pm 0.11 {\rm (syst)}$ ps. 本文还呈现了对 $B_s$ 寿命的低统计率 $B_s \to J/\psi \phi$ 衰变的测量.