近四方相BiFeO$_3$薄膜的偏振拉曼光谱研究
材料科学
2015-05-18 v1 介观与纳米尺度物理
强关联电子
摘要
BiFeO薄膜可以在高双轴压应变下外延稳定在近四方相。本文研究了具有类四方(BFO-T)、类菱方(BFO-R)和多相(BFO-T+R)结构的受限BiFeO薄膜的偏振拉曼光谱。基于对拉曼线数目和对称性的分析，我们提供了强有力的实验证据，表明近四方相薄膜是单斜的(对称性)而非四方相。通过拉曼成像技术，我们展示了BFO-T和BFO-R相的局域共存，其相对比例取决于薄膜厚度。
引用
@article{arxiv.1003.2828,
title = {Polarized Raman spectroscopy of nearly-tetragonal BiFeO$_3$ thin films},
author = {M. N. Iliev and M. V. Abrashev and D. Mazumdar and V. Shelke and A. Gupta},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.2828},
year = {2015}
}
备注
4 pages, 4 figures, 1 table