高应变BiFeO3薄膜增强机电响应的纳米尺度结构与机制
材料科学
2011-05-23 v1
摘要
本文研究了BiFeO3中应变诱导结构相变的纳米结构演化。利用高分辨率X射线衍射和基于扫描探针显微技术的研究，我们独特地识别并检验了这些相界处存在的众多相，并且除了先前观察到的类菱方相和类四方相外，还发现了一个中间单斜相。进一步的分析确定，这些薄膜的所谓混合相区并非类菱方相和类四方相的混合物，而是高度扭曲的单斜相的紧密混合物，没有类菱方母相存在的证据。最后，我们提出了这些薄膜中增强机电响应的机制，包括这些相如何在纳米尺度上相互作用以产生大的表面应变。
引用
@article{arxiv.1105.4001,
title = {Nanoscale structure and mechanism for enhanced electromechanical response of highly-strained BiFeO3 thin films},
author = {A. R. Damodaran and C. -W. Liang and Q. He and C. -Y. Peng and L. Chang and Y. -H. Chu and L. W. Martin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1105.4001},
year = {2011}
}
备注
17 page; 5 figures; Accepted to Advanced Materials, March 17, 2011