高应变BiFeO3薄膜中混合相畴的表征与操控

Lu You; Zuhuang Chen; Xi Zou; Hui Ding; Weigang Chen; Lang Chen; Guoliang Yuan; Junling Wang

高应变BiFeO3薄膜中混合相畴的表征与操控

材料科学 2012-03-01 v2

作者: Lu You , Zuhuang Chen , Xi Zou , Hui Ding , Weigang Chen , Lang Chen , Guoliang Yuan , Junling Wang

摘要

高应变BiFeO3薄膜中由应变驱动的新型同形相界(MPB)以有序的混合相纳米畴(MPN)为特征。通过扫描探针显微镜和同步辐射X射线衍射，我们识别出MPN的八种结构变体。利用角度依赖的压电力显微镜解析了MPN内部的详细极化构型。在所得结果的指导下，通过控制局部探针的运动，实现了对MPN的确定性操控。这些发现对于深入理解由竞争相之间的相变产生的超高机电响应具有重要意义，并为探索这一新型MPB系统中的电子结构、磁电耦合及其他功能特性提供了可能。

关键词

同形相界 BiFeO3薄膜混合相纳米畴压电力显微镜机电响应扫描探针显微镜畴操控

引用

@article{arxiv.1112.6305,
  title  = {Characterization and manipulation of mixed phase domains in highly-strained BiFeO3 thin films},
  author = {Lu You and Zuhuang Chen and Xi Zou and Hui Ding and Weigang Chen and Lang Chen and Guoliang Yuan and Junling Wang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1112.6305},
  year   = {2012}
}

备注

27 pages, 8 figures

高应变BiFeO3薄膜中混合相畴的表征与操控

摘要

关键词

引用

备注

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