近四方相BiFeO3薄膜的纳米尺度开关特性
材料科学
2015-05-18 v1
摘要
我们结合扫描探针技术，研究了沉积在LaAlO3衬底上的应变工程BiFeO3薄膜的纳米尺度开关特性。偏振拉曼光谱分析表明，近四方相薄膜具有单斜（Cc）对称性，而非P4mm四方对称性。通过局域开关谱测量和压电力显微镜，我们提供了四方相铁电开关的明确证据，但其极化方向，以及因此其开关行为，严重偏离了预期的（001）四方轴。我们还展示了在该材料中，一种可由电场驱动、大且可逆的从四方相到菱方相的结构相变，这在众多应用中具有广阔前景。
引用
@article{arxiv.1004.2052,
title = {Nanoscale switching characteristics of nearly tetragonal BiFeO3 thin films},
author = {Dipanjan Mazumdar and Vilas Shelke and Milko Iliev and Stephen Jesse and Amit Kumar and Sergei Kalinin and Arthur Baddorf and Arunava Gupta},
journal= {arXiv preprint arXiv:1004.2052},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 6 figures