单取向 Pb(Zr0.2Ti0.8)O3 薄膜中应变与极化的部分解耦
材料科学
2009-11-13 v1
摘要
利用高分辨率变温 X 射线衍射技术，研究了外延单取向（即 c 轴垂直于界面）铁电 Pb(Zr0.2,Ti0.8)O3 薄膜的结构演变。获得了全套晶格参数，从而能够估算极化随温度的变化，揭示了极化诱导的四方畸变与弹性四方畸变之间的差异。计算了失配应变的温度演化，发现其与理论温度 - 失配应变相图吻合良好。
引用
@article{arxiv.0705.3354,
title = {Partial decoupling between strain and polarization in mono-oriented Pb(Zr0.2Ti0.8)O3 thin film},
author = {Pierre-Eymeric Janolin and Bernard Fraisse and Francoise Le Marrec and Brahim Dkhil},
journal= {arXiv preprint arXiv:0705.3354},
year = {2009}
}
备注
11 pages, 3 figures