Epitaxial BaTiO₃薄膜中的晶格松弛
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
我们利用同步辐射X射线衍射研究了铼钛氧化物(BaTiO₃)薄膜中由铁电相变引起的垂直方向晶格松弛问题。在压缩应变或拉伸应变条件下，温度变化均存在两个结构相变。铁电临界温度Tc与应变强度呈强相关，可比 Bulk情况下的Tc高出约100 K。压缩应变下，BaTiO₃晶胞的垂直扭率表明其第一铁电相的极化方向为垂直于薄膜；拉伸应变下则表明极化方向为平面内。较低温度的相变可能对应于aa→r或c→r相变，依据Pertsev等人的记号。晶体域的取向与理论预测一致。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0511518,
title = {Lattice Relaxation in Epitaxial BaTiO$_3$ Thin Films},
author = {Feizhou He and Barrett O. Wells},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0511518},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 3 figures