硅注入多晶金刚石膜的光学性质
应用物理
2021-01-05 v1
摘要
我们研究了含有硅空位（SiV）色心的多晶金刚石膜的光学性质，并结合其他纳米分析技术进行分析。我们分析了晶界与晶粒内拉曼信号、SiV发射及背景发光之间的关联，确定了单SiV色心可寻址的条件。此外，我们进行了扫描透射电子显微镜（STEM）分析，将膜的微观结构及金刚石晶体沿生长方向的演变与光致发光性质相关联，并采用飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）来表征注入与未注入膜中硅的分布。STEM与ToF-SIMS的研究结果与光学测量的结果一致，并为量子纳米光学中多晶样品的制备提供了有益见解。
引用
@article{arxiv.2011.05426,
title = {Optical properties of silicon-implanted polycrystalline diamond membranes},
author = {H. Kambalathmana and A. M. Flatae and L. Hunold and F. Sledz and J. Müller and M. Hepp and P. Schmuki and M. S. Killian and S. Lagomarsino and N. Gelli and S. Sciortino and L. Giuntini and E. Wörner and C. Wild and B. Butz and M. Agio},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.05426},
year = {2021}
}
备注
21 pages, 8 figures