沉积在ZnO缓冲层上的PZT薄膜的光学性质
材料科学
2015-10-26 v1
摘要
通过m-lines光谱研究了沉积在ZnO上的锆钛酸铅（PZT）薄膜的光学性质。为了从m-lines光谱中检索两层的折射率和厚度，我们针对双层系统开发了一种数值算法，并展示了其在噪声存在下的鲁棒性。双层模型算法的灵敏度使我们能够将观察到的PZT折射率变化归因于由于PZT/ZnO光波导的ZnO界面引起的PZT结构变化。
引用
@article{arxiv.1510.07014,
title = {Optical properties of PZT thin films deposited on a ZnO buffer layer},
author = {T Schneider and D Leduc and J. Cardin and C Lupi and N Barreau and H Gundel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1510.07014},
year = {2015}
}