五烷和三氟五烷薄膜的光学特性
软凝聚态物质
2009-11-13 v1 材料科学
摘要
使用可变角旋光谱学研究了五烷(PEN)和三氟五烷(PFP)薄膜在各种SiO2基底上的光学特性。使用X射线反射率和原子力显微镜进行结构表征。用于分析旋光数据时采用轴向各向异性模型，其光轴垂直于样品表面。观察到强烈的光学各向异性，这使得可以确定吸收带过渡偶极子的方向。此外，将PEN和PFP薄膜的光学常数与溶液中单体的吸收光谱进行比较，显示出由于晶体环境导致的显著变化。相对于单体光谱，PEN(PFP)薄膜中观察到的HOMO- LUMO跃迁在能量上分别减少了210 meV(280 meV)。意外地，PFP薄膜中的第二个吸收带相对于单体光谱出现轻微蓝移(40 meV)，其过渡偶极子方向与第一个吸收带的过渡偶极子方向垂直。
关键词
引用
@article{arxiv.0707.3768,
title = {Optical Properties of Pentacene and Perfluoropentacene Thin Films},
author = {Alexander Hinderhofer and Ute Heinemeyer and Alexander Gerlach and Stefan Kowarik and Robert M. J. Jacobs and Youichi Sakamoto and Toshiyasu Suzuki and Frank Schreiber},
journal= {arXiv preprint arXiv:0707.3768},
year = {2009}
}
备注
6 pages, 6 figures, submitted to J. Chem. Phys