基于有机薄膜漫 X 射线散射的岛状形貌演化分析及其对生长的启示
介观与纳米尺度物理
2015-06-23 v1
摘要
理解具有形状各向异性的有机半导体分子的生长对于光电器件的加工至关重要。本工作通过详细分析薄膜形貌，在微观层面上提供了对典型棒状有机半导体二茚并苝薄膜生长的见解。我们使用源自简单液体的小角散射理论中的理论描述，对通过高分辨率掠入射小角 X 射线散射 (GISAXS) 获得的数据进行了建模。基于针对不同物体类型的形状因子计算，我们确定了各层中岛状形状的变化。原子力显微镜测量证实了我们的发现。
引用
@article{arxiv.1410.5727,
title = {On the analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and the implications for growth},
author = {C. Frank and R. Banerjee and M. Oettel and A. Gerlach and J. Novák and G. Santoro and F. Schreiber},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.5727},
year = {2015}
}
备注
11 pages, 7 figures, accepted by Phys. Rev. B