模块化左手-右手对称模型中的中微子质量纹理及其现象学

Ankita Kakoti; Happy Borgohain; Mrinal Kumar Das

模块化左手-右手对称模型中的中微子质量纹理及其现象学

高能物理 - 唯象学 2025-05-01 v3

作者: Ankita Kakoti , Happy Borgohain , Mrinal Kumar Das

摘要

中微子质量纹理在研究各种中微子质量模型及其相关现象学方面发挥着关键作用。本文聚焦于以 $left-right$ 对称模型(LRSM)框架，增添 $A_4$ 模块化对称性所致的中微子现象学。更具体地说，我们专注于 $\Gamma(3)$ 模块群的实现。由于模块化对称性要求对模型中粒子内容分配不同的模块化权重，我们考虑模块化权重 $k_Y$ = 4, 6, 8, 10的LRSM，由此产生不同的中微子纹理(纹理零结构)，并研究其随之而来的中微子现象学。诸如共振性产生(RL)、对 neutrinoless 双beta衰变(NDBD)的新物理贡献(动量相关( $\lambda$ 和 $\eta$ )以及右手中微子NDBD和Lepton Flavor Violation(LFV)的贡献均已被考量。该研究分别针对中微子质量的正常和反向排序，阐述了本模型对于以TeV尺度LRSM的中微子参数之间的相关性。

关键词

中微子质量纹理左手-右手对称模型模块化对称性 A4 无中微子双beta衰变

引用

@article{arxiv.2406.02944,
  title  = {Neutrino mass textures and associated phenomenology in modular left-right symmetric model},
  author = {Ankita Kakoti and Happy Borgohain and Mrinal Kumar Das},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2406.02944},
  year   = {2025}
}

备注

37 pages

模块化左手-右手对称模型中的中微子质量纹理及其现象学

摘要

关键词

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