氧化钒纳米尺度结金属 - 绝缘体相变中的多重雪崩效应
介观与纳米尺度物理
2008-10-31 v3
摘要
纳米尺度 器件的金属 - 绝缘体相变与通常报道的平滑输运曲线截然不同。温度驱动的相变通过一系列电阻跃变发生，其幅度跨越 2 个数量级，表明该相变是由雪崩效应引起的。我们发现跃变幅度服从幂律分布，证明了这是 薄膜的固有属性。我们报道了跃变幅度与器件尺寸之间令人惊讶的关系。渗流模型能够捕捉一般的输运行为，但无法解释其统计行为。
引用
@article{arxiv.0803.1190,
title = {Multiple Avalanches Across the Metal-Insulator Transition of Vanadium Oxide Nano-scaled Junctions},
author = {Amos Sharoni and Juan Gabriel Ramírez and Ivan K. Schuller},
journal= {arXiv preprint arXiv:0803.1190},
year = {2008}
}
备注
4 papers and 4 figures submitted to PRL