MoS2中的杂质：地质材料中铋杂质的化学识别与空间分辨
材料科学
2020-03-18 v1
摘要
二硫化钼（MoS2）是研究最广泛的过渡金属硫族化物（TMDC）材料，部分原因是它是地球上天然存在的晶体，因而丰富且易获取。地质MoS2已被用于多项将MoS2集成到纳米电子和光电器件中的研究。然而，已知单个MoS2表面的电子性质因天然MoS2固有的缺陷而存在差异。本工作报道了MoS2中铋杂质的存在，其浓度高到足以被X射线光电子能谱（XPS）检测到。这些浓度进一步通过电感耦合等离子体光学发射光谱（ICP-OES）证实。利用XPS_mapping显示了这些铋团簇的局域化，并确定团簇尺寸为数十微米量级。本工作对已知存在于MoS2中的杂质性质提供了重要见解。
引用
@article{arxiv.1910.12688,
title = {MoS2 Impurities: Chemical Identification and Spatial Resolution of Bismuth Impurities in Geological Material},
author = {Maria Gabriela Sales and Lucas Herweyer and Elizabeth Opila and Stephen McDonnell},
journal= {arXiv preprint arXiv:1910.12688},
year = {2020}
}
备注
15 pages, 7 figures