修正肖特基发射以解释 BaTiO$_3$ 纳米线中的厚度依赖性和慢去极化
材料科学
2015-02-16 v1
摘要
我们研究了超薄吸附物稳定铁电线中去极化速率的起源。通过应用密度泛函理论计算和解析建模，我们证明去极化源于储存在表面吸附物上的电荷泄漏，这些吸附物在极化稳定中起重要作用。去极化速度随厚度和温度变化，遵循几种复杂的趋势。我们提出了一个综合物理模型，其中考虑了量子隧穿、肖特基发射和温度依赖的电子迁移率。该模型模拟了实验结果，验证了物理机制。我们还预期，这种改进的隧穿 - 肖特基发射模型可用于预测不同厚度和温度下各种铁电材料的极化保持时间和漏电流。
引用
@article{arxiv.1502.04105,
title = {Modiffied Schottky emission to explain thickness dependence and slow depolarization in BaTiO$_3$ nanowires},
author = {Y. Qi and J. M. P. Martirez and Wissam A. Saidi and J. J. Urban and W. S. Yun and J. E. Spanier and A. M. Rappe},
journal= {arXiv preprint arXiv:1502.04105},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 5 figures