ZnO中电子和空穴稳定性的微观起源
材料科学
2013-09-18 v1
摘要
提出了一种评估半导体材料掺杂极限的新颖直接方法。应用于ZnO的情况，我们的第一性原理计算表明，p型ZnO在热力学上是不稳定的。
引用
@article{arxiv.1102.0400,
title = {Microscopic Origins of Electron and Hole Stability in ZnO},
author = {C. Richard A. Catlow and Alexey A. Sokol and Aron Walsh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1102.0400},
year = {2013}
}
备注
Accepted to Chemical Communications (2011)