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利用光子束对拓扑能带结构进行微米级电子图案化

材料科学 2015-11-30 v3

摘要

在理想的三维拓扑绝缘体 (TI) 中,由于存在局域于表面的金属态(即拓扑表面态),其体相是绝缘的而表面是导电的。具有精细调控体相化学计量比的四元 Bi 基化合物 Bi2x_{2-x}Sbx_{x}Te3y_{3-y}Sey_{y},因其体相绝缘特性,是实现理想三维 TI 行为的良好候选材料。然而,尽管输运实验显示其体相绝缘,但在超高真空中解理的 Bi2x_{2-x}Sbx_{x}Te3y_{3-y}Sey_{y} 晶体表面区域仍表现出源自体相导带的占据态。这是由于吸附物诱导的能带向下弯曲所致,这一现象在其他 Bi 基三维 TI 中已知。在此,我们利用角分辨光电子能谱展示,如何利用中等通量的极紫外 (EUV) 光束将这些拓扑平庸态从 Bi1.46_{1.46}Sb0.54_{0.54}Te1.7_{1.7}Se1.3_{1.3} 单晶的费米能级处排除,从而重建该系统低能电子态的纯拓扑特性。我们进一步证明,在这种体相绝缘的 TI 中,该过程具有高度的局域性,因此能够在表面的空间能量景观中印刻结构。我们通过在系统的狄拉克点能量处“书写”微米级字母对此进行了演示。

关键词

引用

@article{arxiv.1412.0822,
  title  = {Micro-metric electronic patterning of a topological band structure using a photon beam},
  author = {Emmanouil Frantzeskakis and Nick de Jong and Berend Zwartsenberg and Yingkai Huang and Tran V. Bay and Pieter Pronk and Erik van Heumen and Dong Wu and Yu Pan and Milan Radovic and Nicholas C. Plumb and Nan Xu and Ming Shi and Anne de Visser and Mark S. Golden},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1412.0822},
  year   = {2015}
}

备注

7 pages, 3 figures, includes Supplementary Information