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微波网络中拓扑边缘不变量的测量

光学 2015-02-10 v2 介观与纳米尺度物理

作者: Wenchao Hu , Jason Cornelius Pillay , Kan Wu , Michael Pasek , Perry Ping Shum , Y. D. Chong

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摘要

我们报告了在由微波网络构成的电磁拓扑绝缘体模拟物中对拓扑不变量的测量，该不变量由散射矩阵本征值的卷绕数组成。该实验可视为拓扑泵的一种变体，非零卷绕意味着拓扑边缘态的存在。在微波网络中，与大多数其他展现拓扑绝缘体物理的系统不同，卷绕数可以直接被观测到。我们讨论了损耗对实验结果及拓扑边缘态的影响。

关键词

拓扑不变量微波网络拓扑绝缘体卷绕数散射矩阵拓扑边缘态拓扑泵

引用

@article{arxiv.1408.1808,
  title  = {Measurement of a topological edge invariant in a microwave network},
  author = {Wenchao Hu and Jason Cornelius Pillay and Kan Wu and Michael Pasek and Perry Ping Shum and Y. D. Chong},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1408.1808},
  year   = {2015}
}

备注

10 pages, 10 figures