通过瑞利散射确定拓扑绝缘体中的量子化拓扑磁电效应
材料科学
2016-05-10 v1 光学
摘要
拓扑绝缘体展现出许多奇特性质。特别是，拓扑绝缘体中存在一种以精细结构常数为单位的量子化拓扑磁电效应。在本快报中，我们理论研究了电磁波在拓扑绝缘体圆柱上的散射特性，特别是在瑞利散射极限下。与普通介质圆柱相比，由于拓扑磁电效应，拓扑绝缘体圆柱的散射显示出许多不寻常的特征。我们提出了两种仅通过测量一个或两个散射角远场中散射波电场分量来确定拓扑绝缘体拓扑磁电效应的简单方案。我们的结果也可能提供一种测量精细结构常数的方法。
引用
@article{arxiv.1404.2384,
title = {Determination of the quantized topological magneto-electric effect in topological insulators from Rayleigh scattering},
author = {Lixin Ge and Tianrong Zhan and Dezhuan Han and Xiaohan Liu and Jian Zi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1404.2384},
year = {2016}
}
备注
15 pages, 4 figures