通过损耗探测手征对称绝缘体中的拓扑不变量
介观与纳米尺度物理
2017-05-17 v2 量子物理
摘要
我们证明，表征具有手征对称性的一维拓扑绝缘体的体缠绕数，可以通过损耗观测到的单粒子位移来探测。损耗代表仅在一个子晶格上重复弱测量的效应，这些测量周期性地中断动力学演化。当这些测量未探测到粒子时，它们实现了负测量。我们的重复测量方案涵盖了时间无关和周期性驱动（Floquet）的拓扑绝缘体，无论是否存在空间无序。在快速重复、极弱测量的极限下，我们的方案描述了非厄米哈密顿量，例如 Phys. Rev. Lett. 102, 065703 (2009) 中的有损 Su-Schrieffer-Heeger 模型。我们发现，与直觉相反，通过降低测量效率可以缩短探测缠绕数所需的时间。我们在离散时间量子行走上展示了这些结果，并提出了实验验证的方法。
引用
@article{arxiv.1611.09670,
title = {Detecting topological invariants in chiral symmetric insulators via losses},
author = {Tibor Rakovszky and Janos K. Asboth and Andrea Alberti},
journal= {arXiv preprint arXiv:1611.09670},
year = {2017}
}
备注
4.5 pages, 3 figures + 4 pages of Supplemental Material