稀金属中随温度线性的电阻率：费米液体视角

我们考虑电子-声学声子相互作用的短程形变势散射模型，以计算理想金属的电阻率随温度（T）和电子密度（n）的变化。我们考虑了三维金属和二维金属，并聚焦于稀释极限，即系统的低有效金属载流子密度。主要发现如下：（1）在稀释极限下，声子散射引起的随T线性的电阻率可维持到任意低的T，与德拜温度（$T_D$）无关，尽管最终低温电阻率在三维（二维）分别转变为预期的 Bloch-Gruneisen（BG）行为，具有 $T^5$（$T^4$）依赖；（2）由于n值较低，系统中声子引起的电阻率可能非常高；（3）电阻率在高温（$T>T_D$）下呈现本征饱和效应，事实上，在高于某一高交叉温度时随T升高而下降，该交叉以非普适方式依赖于 $T_D$ 和 n。我们还给出了二维和三维狄拉克材料的高T随T线性电阻率结果。我们的工作揭示了稀金属中声子输运的普适特征，并评论了结果对奇异金属的可能启示，强调仅在低温观察到随T线性的金属电阻率或高温下极高的金属电阻率，并不必然是援引潜在量子临界奇异金属行为的理由。我们讨论了有效输运散射率的温度变化，表明散射率可低于或高于 $k_BT$，特别地，纯属巧合地，在正常金属中计算所得散射率恰为 $k_BT$，但这对所谓普朗克行为并无暗示。