模型对中子反射率分析分辨率影响的研究

中子反射率法是研究薄膜与界面结构的关键工具。然而,将玻恩近似错误地应用于反射几何,使得一些人误认为中子反射率法所能探测的最小厚度受限于测量的 Q 范围。在本研究中,我们利用依赖模型的分析方法、多种同位素对比以及磁自旋态,证明可以分辨出显著小于这一感知极限的结构。为量化这种"分析分辨率",我们采用贝叶斯模型选择,从而在不同分析模型之间提供稳健且可量化的比较。我们相信本工作为中子反射率分析提供了关键洞见,并期望其有助于未来实现更精确、信息更丰富的分析。