在中子反射分析中最化信息密度的通用方法
软凝聚态物质
2022-07-22 v4 计算物理
应用统计
摘要
中子与 X 射线反射术是研究界面材料结构的强有力技术。这些技术的分析本质上是不适定的，需采用模型依赖方法。当模型中允许变化的参数过多或过少时，会导致实验数据的过度分析与欠分析。本工作中，我们勾勒出一个稳健且通用的框架，用于确定能够最大化模型信息密度的自由参数集合。该框架涉及对自由参数每种排列的贝叶斯证据（Bayesian evidence）的确定，并被应用于一个简单的磷脂单分子层。我们相信此框架应成为反射数据解析的重要组成部分，并希望他人更常规地考量其分析模型的相对证据。
引用
@article{arxiv.1910.10581,
title = {A general approach to maximise information density in neutron reflectometry analysis},
author = {Andrew R. McCluskey and Thomas Arnold and Joshaniel F. K. Cooper and Tim Snow},
journal= {arXiv preprint arXiv:1910.10581},
year = {2022}
}