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中子反射术:揭示异质结构界面涌现现象的技术

材料科学 2023-03-24 v1 介观与纳米尺度物理

摘要

中子反射术(NR)已成为研究生物相关材料和磁性材料薄膜结构与磁性的独特技术。相较于许多其他表面敏感技术,NR的优势在于其亚纳米分辨率,能够在分子水平上进行结构表征。对于生物相关样品,NR可用于非破坏性地探测埋藏界面的薄膜,甚至可采用复杂的样品环境。而极化版本的中子反射术最适合以亚纳米深度分辨率揭示界面磁性。在本文中,我将简要描述NR的基本原理,并介绍NR在生物相关样品和磁性异质结构中的一些应用。

关键词

引用

@article{arxiv.2303.13028,
  title  = {Neutron Reflectometry: a technique for revealing emergent phenomena at interfaces in heterostructures},
  author = {Surendra Singh},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2303.13028},
  year   = {2023}
}