平滑界面势存在下的极化中子反射测量
材料科学
2011-08-30 v1
摘要
极化中子反射测量（PNR）在过去几十年中在理论和实验上均得到了发展。为解决中子反射测量中的相位问题，已提出多种模拟方法，如参考层法和环境变化法。通过在模拟中考虑平滑度或粗糙度等因素，试图获得与实验更相符的结果。本文利用四种不同的函数“线性、Airy、Eckart 和误差函数”，使用带极化中子的参考层法，研究了界面势的平滑度对反射率、反射中子极化以及样品散射长度密度（SLD）确定的影响。我们还提出了一种解决方案，以在存在平滑度的情况下，从输出反射率数据中获得噪声更少的更好结果。
引用
@article{arxiv.1108.5661,
title = {Polarized Neutron Reflectometry at the Presence of Smooth Interfacial Potential},
author = {Saeed S. Jahromi and Seyed Farhad Masoudi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1108.5661},
year = {2011}
}