由半衰变过程 $B \to \pi l \nu$ 提供的 $B \to \pi \pi$ 信息

对当前 $B \to \pi \ell \nu$ 半衰变数据的分析表明，现有数据尚未达到足够的精度，以提供关于 $B \to \pi$ 形状因子 $F_+(q^2)$ 的信息。当 $q^2 = m_\pi^2$ 时，已知 $F_+(q^2)$ 与 $B^0 \to \pi^+ \pi^-$ 中被约化、偏好 (``$T$'', 或 ``树'') 贡献相关。文中展示，在对约 500 个 $B \to \pi \ell \nu$ 事件进行率率和谱率测量后，可显著提高 $T$ 的精度。与此相关的 CLEO 对 $D^* D \pi$ 耦合常数的一次确定与早期预测进行比较，并指出其在描述 $B \to \pi$ 形状因子中的作用。结合使用从 $B \to K \pi$ 衰变中利用味量 SU(3) 对对 peng �幅 (``$P$'') 的估计，$T$ 的信息允许我们评估 peng �幅对从 $B^0 \to \pi^+ \pi^-$ 中时变 CP 违背率不对称性中提取弱相位 $\alpha = \phi_2$ 的影响。描述了由此约束的 $\alpha$ 所暗示的最近实验结果。