用于高频高效电源转换器中晶体管损耗分离的混合单脉冲与 Sawyer-Tower 方法

Xiaoyang Tian; Mowei Lu; Florin Udrea; Stephan Goetz

用于高频高效电源转换器中晶体管损耗分离的混合单脉冲与 Sawyer-Tower 方法

系统与控制 2025-06-24 v1 系统与控制应用物理

作者: Xiaoyang Tian , Mowei Lu , Florin Udrea , Stephan Goetz

摘要

准确测量晶体管 parasitic 电容及其相关能量损耗对于评估器器性能尤其重要，尤其是在高频和高效电源转换系统中。本文提出一种混合单脉冲和 Sawyer-Tower 测试方法，用于分析场效应晶体管 (FET) 的开关特性，该方法不仅消除重叠损耗，还减轻了传统双脉冲测试中观察到的电流反流的影响。通过精确的损耗分离模型，实现对开关损耗的准确量化，提供对器器能量耗散机制的细致理解。我们通过对 350 W LLC 转换器的实验测量验证了滞回数据和损耗分离结果，进一步深入洞察了晶体管动态行为及其对运行条件的依赖性。该方法适用于广泛范围的晶体管，包括新兴的 SiC 和 GaN 器器，并为器器器件特性表征和优化提供了有价值的工具。

关键词

晶体管损耗分离单脉冲测试 Sawyer-Tower 方法 parasitic 电容电源转换器

引用

@article{arxiv.2506.18635,
  title  = {Hybrid Single-Pulse and Sawyer-Tower Method for Accurate Transistor Loss Separation in High-Frequency High-Efficiency Power Converters},
  author = {Xiaoyang Tian and Mowei Lu and Florin Udrea and Stephan Goetz},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2506.18635},
  year   = {2025}
}

备注

5 pages, 8 figures

用于高频高效电源转换器中晶体管损耗分离的混合单脉冲与 Sawyer-Tower 方法

摘要

关键词

引用

备注

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