利用自适应容变算法实现忆阻器件状态的高精度调节
材料科学
2015-05-30 v1 硬件体系结构
摘要
利用二氧化钛薄膜器件常见的忆阻特性,我们设计了一种简单的写入算法,即使在开关行为存在较大波动的情况下,也能将器件在特定偏置点的电导调节至其动态范围内1%的相对精度(大致相当于7位精度)。该高精度状态是非易失性的,并且由于电阻开关固有的丝状本质,这一结果很可能在纳米尺度忆阻器件中得以维持。所提出的忆阻器件功能对于低精度数据的模拟计算尤其具有吸引力。作为一个代表性示例,我们展示了由CMOS求和放大器与两个忆阻器件组成的混合电路,用以执行模拟乘法与累加计算,这是信息处理中典型的瓶颈操作。
引用
@article{arxiv.1110.1393,
title = {High-Precision Tuning of State for Memristive Devices by Adaptable Variation-Tolerant Algorithm},
author = {Fabien Alibart and Ligang Gao and Brian Hoskins and Dmitri Strukov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.1393},
year = {2015}
}
备注
20 pages, 6 figures