多重拓扑质量域中的螺旋边缘态

P. Michetti; P. H. Penteado; J. C. Egues; P. Recher

doi:10.1088/0268-1242/27/12/124007

多重拓扑质量域中的螺旋边缘态

介观与纳米尺度物理 2012-11-26 v3

作者: P. Michetti , P. H. Penteado , J. C. Egues , P. Recher

在 arXiv 上查看 ↗ PDF ↗ DOI ↗

摘要

二维拓扑绝缘相已在 HgTe 量子阱 (QWs) 中被实验发现。二维拓扑绝缘体 (TIs) 的低能物理由 Bernevig-Hughes-Zhang (BHZ) 模型描述，其中拓扑或正常绝缘相的实现分别取决于 Dirac 质量为负或正。我们求解了质量域构型下的 BHZ 模型，分析了正常绝缘区域中有限 Dirac 质量对边缘模的影响（软壁边界条件）。我们表明，在拓扑绝缘体 (TI) 与正常绝缘体 (NI) 的边界处，界面处出现的边缘态的 Dirac 点强烈依赖于两个区域中 Dirac 质量的比值。我们还考虑了多重边界的情形，如 NI/TI/NI、TI/NI/TI 和 NI/TI/NI/TI。

关键词

拓扑绝缘体螺旋边缘态 bernevig-hughes-zhang 模型 dirac 质量质量域软壁边界条件

引用

@article{arxiv.1209.2313,
  title  = {Helical edge states in multiple topological mass domains},
  author = {P. Michetti and P. H. Penteado and J. C. Egues and P. Recher},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1209.2313},
  year   = {2012}
}

备注

11 pages, 15 figures

多重拓扑质量域中的螺旋边缘态

摘要

关键词

引用

备注

相关论文