晕采样、局部偏倚与圈修正

我们通过对暗物质 - 晕分布进行采样构建局部偏倚的晕密度场，从而提出了一种对局部偏倚的新检验方法。我们的检验不同于传统检验之处在于，它保留了偏倚关系中的全部散射，且不依赖于微扰理论。我们提出，使用平滑尺度 R 获得的偏倚参数仅适用于计算尺度 k ~ 1/R 处的晕功率谱。我们的计算可以自动包含偏倚参数的跑动，并在低 k 处给出趋于零的圈修正。我们的方案使得采样结果和微扰理论结果与模拟结果的吻合度大大提高。特别是，与文献中对局部偏倚的标准解释不同，我们对局部偏倚的处理在低 k 极限下不会产生常数功率。我们在低于其转折点的波数处搜索泊松修正后的晕功率谱中的额外噪声，未发现显著正噪声的证据（正如标准解释所预测的那样），但发现了来自大质量晕排除效应的负噪声证据。利用微扰理论和我们的非微扰采样技术，我们还证明了最近在模拟中发现的非局部偏倚效应仅在弱非线性区域对功率谱产生百分之几的影响。