具有界面缺陷的自由共形理论的全计数统计与对称性分辨纠缠

我们考虑通过共形界面耦合在一起的两种一维临界自由理论的基态。它们具有内部 $U(1)$ 整体对称性，我们研究跨越杂质电荷的量子涨落，给出全计数统计、约化密度矩阵的带电矩以及对称性分辨 R\'enyi 熵的解析预测。我们的方法基于带缺陷的几何与均匀几何之间的关系，并提供了一种刻画限制于两种物种之一的关联函数的谱性质的方式。我们的解析预测通过数值检验，发现了完美的吻合。