来自类安德烈夫隧穿的分数量子统计诱导纠缠
介观与纳米尺度物理
2025-07-25 v2 强关联电子
摘要
任意子统计在拓扑量子技术领域中扮演着基石角色。尽管近年来在探测任意子方面取得了令人鼓舞且具有说服力的进展,但一个重要的方面仍未得到探索,特别是在将任意子物理与量子信息平台联系起来方面——任意子编织能否以及如何产生纠缠。在这里,我们证明即使两个任意子子系统(由任意子束表示)仅通过电子隧穿连接,它们之间也会产生体现分数量子统计的纠缠。为了演示这一物理过程,我们依赖于一个平台,其中分数量子霍尔边缘由仅允许费米子传输的量子点接触桥接(所谓的类安德烈夫隧穿)。这涉及任意子Hong-Ou-Mandel碰撞器中的双束碰撞物理,伴随一个我们称之为任意子-准空穴编织的过程。我们定义了一个纠缠指针——一个基于电流噪声的函数,专门用于量化与准粒子分数量子统计相关的纠缠。我们的工作从理论和实验上揭示了与任意子统计和编织相关的纠缠,有望为探索非阿贝尔统计诱导的纠缠铺平道路。
引用
@article{arxiv.2312.16556,
title = {Fractional-statistics-induced entanglement from Andreev-like tunneling},
author = {Gu Zhang and Pierre Glidic and Frederic Pierre and Igor Gornyi and Yuval Gefen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2312.16556},
year = {2025}
}
备注
49 pages, 13 figures