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二维横场伊辛和 XXZ 模型中的保真度磁化率

统计力学 2015-05-14 v1

摘要

我们数值研究了二维横场伊辛模型和二维 XXZ 模型中的保真度磁化率。研究发现,在这两个模型中,作为驱动参数函数的保真度磁化率在临界点处发散。因此,在这两个模型中验证了保真度磁化率用于标记量子相变的有效性。我们还比较了保真度磁化率极值的标度行为与基态能量二阶导数的标度行为。从这些结果来看,保真度磁化率是二级量子相变更灵敏的探测器的理论论证在这两个模型中也得到了证实。

关键词

引用

@article{arxiv.0908.3132,
  title  = {Fidelity susceptibility in the two-dimensional transverse field Ising and XXZ models},
  author = {Wing-Chi Yu and Ho-Man Kwok and Junpeng Cao and Shi-Jian Gu},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0908.3132},
  year   = {2015}
}

备注

6 pages, 7 figures