Co/Cu多层结构导电性演化：ab initio研究
材料科学
2009-11-07 v1
摘要
我们present了对Co/Cu多层薄片面内导电性的ab initio计算。通过在筛选KKR方案中进行密度泛函理论计算多层薄片的电子结构。利用松弛时间近似中的玻尔兹曼方程描述传输性质。我们研究了多层结构生长过程中导电性的变化，可以再现实验在多个多层系统中观察到的异常非欧姆行为。我们的结果表明，这一行为仅可通过薄片的电子结构来解释。无需额外假设界面散射。通过分析层投影导电性，阐明了电子结构和生长层层增长过程中导电性的联系。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0109293,
title = {Evolution of Co/Cu multilayer conductivity during growth: ab intio study},
author = {P. Zahn and N. Papanikolaou and F. Erler and I. Mertig},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0109293},
year = {2009}
}
备注
6 pages, 4 figures, submitted to PRB